研究機器

高温粘度計(T-C8020,F160、NIKKATO Corp.)

 

CNF大量合成装置

極細ナノファイバ分散装置(T.K.FILMICS 56、PRIMIX)

 

加圧縦型CNF大量合成装置

X線回折測定装置(RINT2000、Rigaku)

 

高精度比表面積・細孔分布測定装置

(BELSORP-max、日本ベル)

高速・比表面積・細孔分布測定装置

(NOVA4200e、シスメックス)

 

引張試験機

(TENSILON UTM-Ⅱ-20、OIRENTEC Corp.)

高温熱分析装置(SETSYS 24、SETARAM)

 

TG/DTA6300

(EXSTAR TG/DTA6000、SII)

ガスクロマトグラフ質量分析

(Turbo Mass and Autosystem XL、PerkinElmer)

 

フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-615、JASCO)

光交流法熱定数測定装置(PIT-1、ULVAC)

 

黒鉛化炉(倉田技研)

 

全自動昇温脱離スペクトル装置

(マルチタスクT.P.D、日本ベル)

フィールドエミッション透過電子顕微鏡

(JEM-2100F、JEOL)

 

フィールドエミッション走査型電子顕微鏡

(JFM-6700F、JEOL)

フィールドエミッション走査型電子顕微鏡 EDAX付

(JSM-6320F、JEOL)

 

オスミウム・プラズマコーター(OPC60A、Filgen)

イオンコータ(JFC-1100、JEOL)

 

走査型プローブ顕微鏡(SPA300、SII)

高性能実態顕微鏡(MZ12、LEICA)

 

偏光顕微鏡(BX51、OLYMPUS)

偏光顕微鏡(BH-2、OLYMPUS)

 

ガスクロマトグラフ装置(G6800、Yanaco)

ガスクロマトグラフ装置(GC7000、JSL)

 

オートクレーブ No.1(ATM-1001、アジア理化器)

オートクレーブ No.2(ATM-1001、アジア理化器)

 

オートクレーブ No.3

熱・応力・歪測定装置(EXSTAR TMA/SS6300、SII)

 

充放電評価装置(TOSCAT-3100、東洋システム)

 

原子発光検出器付きガスクロマトグラフ

(GC 7890A、Agilent technologies/AED G2350、JAS)

原子発光検出器付きガスクロマトグラフ

(HP6890、Hewlett Packard/AED G2350、JAS)

 

飛行時間型質量分析計

(TOF/MS JMS-ELITEⅡ、JEOL)

光電子分光装置(JPS-9000MC、JEOL)

 

高速液体クロマトグラフ(LaChrom Elite、HITACHI)

窒素酸化物自動計測器(ECL-880US、Yanaco)

         

SOx測定用ガスクロマトグラフィー(G2800,Yanaco)

 
         

電気化学的水晶振動子微少秤量装置

電気化学測定装置(北斗電工)

粉末X線回折装置(試料高温装置付き)

(RINT-UltimaⅢ,Rigaku)